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項目介紹

紫外光電子能譜UPS（Ultraviolet Photoelectron Spectrometer）用于測定導體或半導體材料的功函數(shù)與價帶頂，它是以紫外線為激發(fā)光源的光電子能譜。激發(fā)源的光子能量較低，該光子產(chǎn)生于激發(fā)原子或離子的退激，最常用的低能光子源為氦Ⅰ和氦Ⅱ。紫外光電子能譜主要用于考察氣相原子、分子以及吸附分子的價電子結(jié)構(gòu)。

應(yīng)用：電子能譜目前主要應(yīng)用于催化、金屬腐蝕、粘合、電極過程和半導體材料與器件等這樣一些極有應(yīng)用價值的領(lǐng)域，探索固體表面的組成、形貌、結(jié)構(gòu)、化學狀態(tài)、電子結(jié)構(gòu)和表面鍵合等信息。隨著時間的推移，電子能譜的應(yīng)用范圍和程度將會越來越廣泛，越來越深入。由于紫外光電子能譜的光源能量較低，線寬較窄（約為0.01eV),只能使原子的外層價電子、價帶電子電離，并可分辨出分子的振動能級,因此它被廣泛地用來研究氣體樣品的價電子和精細結(jié)構(gòu)以及固體樣品表面的原子、電子結(jié)構(gòu)。

樣品要求

1. 樣品為塊體或薄膜，尺寸小于1*1cm，厚度小于2mm，最好是新鮮干燥的薄膜、塊體材料，表面平整無污染（請標記好測試面）；

2. 粉末樣品實驗室制樣一般壓縮在導電膠上。如果客戶使用旋涂法制備樣品，要求是基材材質(zhì)為ITO、FTO、單晶硅片等半導體材料。旋涂成膜也可以，要求均勻，厚度大于測試深度2nm，若制樣造成數(shù)據(jù)問題，需您自行承擔責任；

3. 盡量注明膜厚度，測試時作為參考；

4. UPS的光斑大小一般是1*1-3*3mm；默認激發(fā)源采用HeI（21.22eV）；

5. 測試粉末樣品風險大，不建議做，測試反饋真實數(shù)據(jù)，若是樣品問題造成數(shù)據(jù)問題，不支持解釋與復測，下單即默認接受風險；

6. UPS塊體樣品測試時上下表面會粘導電膠，取下后也無法完全去除，因此UPS塊體樣品沒有特別說明，樣品不保留；UPS只測表面2nm左右的厚度，測試敏感，樣品在空氣中的放置時間長短也會對結(jié)果造成影響，因此不支持復測，敬請諒解！

項目案列